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13/03/31 16:32
너무 방대한것을 물어보십니다.
아주 기본적인 것만 말씀드리자면 어느정도 크기가 있는 물체는 보통의 광학 현미경으로 관찰 가능하지만 그 크기가 아주 작아지면 빛의 상대적으로 긴 파장에 의해 diffraction이 커져서 선명한 이미지를 얻을수가 없습니다. 기본적으로 SPM은 탐지 probe의 끝과 물체의 표본의 상호작용(예를 들면 전자의 터널링 이펙트)를 이용해 표본을 line by line 즉 표본을 행렬로 생각하면 첫번째 행을 프루브로 쭉 긁고 또 두번째 행을 프루브로 쭉 긁는 방식으로 나노스케일의 아주작은 물체의 이미지를 얻는 방법입니다. 한번 긁을때마다(scanning) probe는 표본의 한 점에서의 높이를 상호작용을 통해 탐지해 내고 그 높이를 바탕으로 이미지가 표현이 됩니다. 위키피티아의 영문설명이 나름 괜찬케 나와있습니다만 관련 교과서를 한번 읽어보는것을 더 추천드립니다. http://en.wikipedia.org/wiki/Scanning_probe_microscopy 관련교과서는 Joseph Goldstein외 여러저자가 공저한 Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis를 한번 도서관에서 찾아 읽으시면 도움이 될듯 합니다.
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